BALBONI, ROBERTO
BALBONI, ROBERTO
Istituto per lo Studio dei Materiali Nanostrutturati - ISMN - Sede Secondaria Bologna
Mostra
records
Risultati 1 - 3 di 3 (tempo di esecuzione: 0.008 secondi).
Quantitative strain mapping in nanoelectronic silicon devices by convergent beam electron diffraction
2008 Armigliato A.; Balboni R.; Frabboni S.; Spessot A.
Microanalisi a Raggi X e microdiffrazione a fascio convergente: applicazioni al silicio
2006 Armigliato A; Balboni R; Frabboni S; Rosa R; Spessot A
Analysis of localised strains in crystals by convergent beam electron diffraction
2004 Armigliato A.; Balboni R.; Benedetti A.; Frabboni S.
| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| Quantitative strain mapping in nanoelectronic silicon devices by convergent beam electron diffraction | 1-gen-2008 | Armigliato A.; Balboni R.; Frabboni S.; Spessot A. | |
| Microanalisi a Raggi X e microdiffrazione a fascio convergente: applicazioni al silicio | 1-gen-2006 | Armigliato A; Balboni R; Frabboni S; Rosa R; Spessot A | |
| Analysis of localised strains in crystals by convergent beam electron diffraction | 1-gen-2004 | Armigliato A.; Balboni R.; Benedetti A.; Frabboni S. |