BLEINER, DAVIDE
BLEINER, DAVIDE
Istituto Nazionale di Ottica - INO - Sede Secondaria di Pisa
Extending Resonant Inelastic X-ray Scattering to Extreme Ultraviolet
2025 Menzi, S.; Mattina, F. L.; Barbato, F.; Pena, Y. A.; Augustin, S.; Knopp, G.; Coreno, M.; Orlando, S.; de Simone, M.; Miotti, P.; Frassetto, F.; Poletto, L.; Bleiner, D.; Cirelli, C.
A sub-100 nm thickness flat jet for extreme ultraviolet to soft X-ray absorption spectroscopy
2024 De Angelis, Dario; Longetti, Luca; Bonano, Gabriele; Pelli Cresi, Jacopo Stefano; Foglia, Laura; Pancaldi, Matteo; Capotondi, Flavio; Pedersoli, Emanuele; Bencivenga, Filippo; Krstulovic, Marija; Menk, Ralf Hendrik; D'Addato, Sergio; Orlando, Stefano; de Simone, Monica; Ingle, Rebecca A.; Bleiner, Davide; Coreno, Marcello; Principi, Emiliano; Chergui, Majed; Masciovecchio, Claudio; Mincigrucci, Riccardo
| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| Extending Resonant Inelastic X-ray Scattering to Extreme Ultraviolet | 1-gen-2025 | Menzi, S.; Mattina, F. L.; Barbato, F.; Pena, Y. A.; Augustin, S.; Knopp, G.; Coreno, M.; Orlando, S.; de Simone, M.; Miotti, P.; Frassetto, F.; Poletto, L.; Bleiner, D.; Cirelli, C. | |
| A sub-100 nm thickness flat jet for extreme ultraviolet to soft X-ray absorption spectroscopy | 1-gen-2024 | De Angelis, Dario; Longetti, Luca; Bonano, Gabriele; Pelli Cresi, Jacopo Stefano; Foglia, Laura; Pancaldi, Matteo; Capotondi, Flavio; Pedersoli, Emanuele; Bencivenga, Filippo; Krstulovic, Marija; Menk, Ralf Hendrik; D'Addato, Sergio; Orlando, Stefano; de Simone, Monica; Ingle, Rebecca A.; Bleiner, Davide; Coreno, Marcello; Principi, Emiliano; Chergui, Majed; Masciovecchio, Claudio; Mincigrucci, Riccardo |