RANIERI, ANTONELLO
RANIERI, ANTONELLO
Istituto di Cristallografia - IC
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X-ray and electrical characterization of a multipixel diamond-based detector in high temperature environments
2023 V. Serpente; M. Mastellone; M. Girolami; A. Bellucci; A. Ranieri; A. Boothby; S. Walsh; G. Lefeuvre; D.M. Trucchi
Alternanza Scuola Lavoro: si riducono le distanze tra Ricerca e Scuola
2017 Guido Righini;Amina Antonacci;Loredana Caccavale;Marcello Colapietro;Gabriele Favaretto;Annalisa Masi;Antonello Ranieri;Luigi Rossi;Ombretta Tarquini;Augusto Pifferi
Wet sample confinement by superhydrophobic patterned surfaces for combined X-ray fluorescence and X-ray phase contrast imaging
2013 Ciasca, G; Businaro, L; De Ninno, A; Cedola, A; Notargiacomo, A; Campi, G; Papi, M; Ranieri, A; Carta, S; Giovine, E; Gerardino, A
| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| X-ray and electrical characterization of a multipixel diamond-based detector in high temperature environments | 1-gen-2023 | V. Serpente; M. Mastellone; M. Girolami; A. Bellucci; A. Ranieri; A. Boothby; S. Walsh; G. Lefeuvre; D.M. Trucchi | |
| Alternanza Scuola Lavoro: si riducono le distanze tra Ricerca e Scuola | 1-gen-2017 | Guido Righini;Amina Antonacci;Loredana Caccavale;Marcello Colapietro;Gabriele Favaretto;Annalisa Masi;Antonello Ranieri;Luigi Rossi;Ombretta Tarquini;Augusto Pifferi | |
| Wet sample confinement by superhydrophobic patterned surfaces for combined X-ray fluorescence and X-ray phase contrast imaging | 1-gen-2013 | Ciasca, G; Businaro, L; De Ninno, A; Cedola, A; Notargiacomo, A; Campi, G; Papi, M; Ranieri, A; Carta, S; Giovine, E; Gerardino, A |