GOVONI, DONATO
 Distribuzione geografica
Continente #
AS - Asia 103
NA - Nord America 78
SA - Sud America 26
EU - Europa 20
AF - Africa 1
Continente sconosciuto - Info sul continente non disponibili 0
Totale 228
Nazione #
US - Stati Uniti d'America 75
SG - Singapore 55
BR - Brasile 20
CN - Cina 17
VN - Vietnam 15
HK - Hong Kong 8
NL - Olanda 7
FR - Francia 4
AR - Argentina 2
CA - Canada 2
ES - Italia 2
IT - Italia 2
JP - Giappone 2
TR - Turchia 2
BA - Bosnia-Erzegovina 1
BD - Bangladesh 1
BO - Bolivia 1
DE - Germania 1
EC - Ecuador 1
FI - Finlandia 1
ID - Indonesia 1
IN - India 1
MX - Messico 1
PE - Perù 1
PK - Pakistan 1
PL - Polonia 1
TN - Tunisia 1
UA - Ucraina 1
VE - Venezuela 1
Totale 228
Città #
Singapore 31
Santa Clara 30
Hong Kong 8
Beijing 7
Ashburn 6
Hanoi 5
Los Angeles 5
San Jose 5
Lauterbourg 4
Dallas 2
Hemet 2
Ho Chi Minh City 2
Hà Tĩnh 2
Orem 2
Tokyo 2
Verona 2
Ankara 1
Araruama 1
Barra de Santo Antônio 1
Brasília 1
Camaçari 1
Can Tho 1
Caracas 1
Cardoso 1
Chapecó 1
Cristianópolis 1
Córdoba 1
Denver 1
Don Torcuato 1
Elliottsburg 1
Franca 1
Frankfurt am Main 1
Grande Prairie 1
Gravatá 1
Gujranwala 1
Gulfport 1
Ha Long 1
Huelva 1
Icapuí 1
Ilha das Flores 1
Imperatriz 1
Istanbul 1
Kissimmee 1
Kyiv 1
Lima 1
Little Rock 1
Machado 1
Mirassol 1
Montreal 1
Mumbai 1
New York 1
Newark 1
Novo Hamburgo 1
Phoenix 1
Quận Một 1
Rochester Hills 1
Sarajevo 1
Scottsdale 1
Selong 1
Sombrio 1
Sukrah 1
São José do Rio Preto 1
São Paulo 1
Terre Haute 1
Teófilo Otoni 1
Turku 1
Warsaw 1
Waterford 1
Woodbridge 1
Zapopan 1
Águas Lindas de Goiás 1
Totale 170
Nome #
A study of He+ ion-induced damage in silicon by quantitative analysis of charge collection efficiency data 51
Structural and analytical characterization of Si1-x Gex /Si heterostructures by Rutherford backscattering spectrometry and channeling, analytical electron microscopy and double crystal X-ray diffractometry 47
Resolution of semiconductor multilayers using backscattered electrons in scanning electron microscopy 45
BAUMA 2007 43
On the resolution of semiconductor multilayers with a scanning electron microscope 42
Totale 228
Categoria #
all - tutte 663
article - articoli 529
book - libri 0
conference - conferenze 0
curatela - curatele 0
other - altro 0
patent - brevetti 0
selected - selezionate 0
volume - volumi 0
Totale 1.192


Totale Lug Ago Sett Ott Nov Dic Gen Feb Mar Apr Mag Giu
2024/202597 1 0 11 0 25 5 0 12 2 6 17 18
2025/2026123 1 3 9 20 39 6 19 4 5 9 7 1
2026/20278 5 3 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0
Totale 228