ALBERTI, ALESSANDRA
ALBERTI, ALESSANDRA
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
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Measuring Techniques for the Semiconductor’s Parameters
2023 Alberti, Alessandra; Giannazzo, Filippo; LA VIA, Francesco; Lombardo, Salvatore; Mio, Antonio M.; Nicotra, Giuseppe; Privitera, Stefania; Reitano, Riccardo; Roccaforte, Fabrizio; Spinella, Corrado; Rimini, Emanuele
Agglomeration of cobalt disilicide on silicon
1999 A. Alberti; L. Kappius;F. d'Heurle
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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Measuring Techniques for the Semiconductor’s Parameters | 1-gen-2023 | Alberti, Alessandra; Giannazzo, Filippo; LA VIA, Francesco; Lombardo, Salvatore; Mio, Antonio M.; Nicotra, Giuseppe; Privitera, Stefania; Reitano, Riccardo; Roccaforte, Fabrizio; Spinella, Corrado; Rimini, Emanuele | |
Agglomeration of cobalt disilicide on silicon | 1-gen-1999 | A. Alberti; L. Kappius;F. d'Heurle |