ROCCAFORTE, FABRIZIO
ROCCAFORTE, FABRIZIO
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
Measuring Techniques for the Semiconductor’s Parameters
2023 Alberti, Alessandra; Giannazzo, Filippo; LA VIA, Francesco; Lombardo, Salvatore; Mio, Antonio M.; Nicotra, Giuseppe; Privitera, Stefania; Reitano, Riccardo; Roccaforte, Fabrizio; Spinella, Corrado; Rimini, Emanuele
Introduction to Gallium Nitride Properties and Applications
2020 Fabrizio Roccaforte;Mike Leszczynski
Technologies for normally-off GaN HEMTs
2020 Greco, Giuseppe; Fiorenza, Patrick; Iucolano, Ferdinando; Roccaforte, Fabrizio
Schottky Contacts to Silicon Carbide: Physics, Technology and Applications
2018 Roccaforte, F; Brezeanu, G; Gammon, P M; Giannazzo, F; Rascuna, S; Saggio, M
Self-assembled metal nanostructures in semiconductor structures
2009 Ruffino, F; Giannazzo, F; Roccaforte, F; Raineri, V; Grimaldi, Mg
Ohmic contacts to SiC
2006 F. Roccaforte; F. La Via; V. Raineri
| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| Measuring Techniques for the Semiconductor’s Parameters | 1-gen-2023 | Alberti, Alessandra; Giannazzo, Filippo; LA VIA, Francesco; Lombardo, Salvatore; Mio, Antonio M.; Nicotra, Giuseppe; Privitera, Stefania; Reitano, Riccardo; Roccaforte, Fabrizio; Spinella, Corrado; Rimini, Emanuele | |
| Introduction to Gallium Nitride Properties and Applications | 1-gen-2020 | Fabrizio Roccaforte;Mike Leszczynski | |
| Technologies for normally-off GaN HEMTs | 1-gen-2020 | Greco, Giuseppe; Fiorenza, Patrick; Iucolano, Ferdinando; Roccaforte, Fabrizio | |
| Schottky Contacts to Silicon Carbide: Physics, Technology and Applications | 1-gen-2018 | Roccaforte, F; Brezeanu, G; Gammon, P M; Giannazzo, F; Rascuna, S; Saggio, M | |
| Self-assembled metal nanostructures in semiconductor structures | 1-gen-2009 | Ruffino, F; Giannazzo, F; Roccaforte, F; Raineri, V; Grimaldi, Mg | |
| Ohmic contacts to SiC | 1-gen-2006 | F. Roccaforte; F. La Via; V. Raineri |