SPINELLA, ROSARIO CORRADO
SPINELLA, ROSARIO CORRADO
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
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Measuring Techniques for the Semiconductor’s Parameters
2023 Alberti, Alessandra; Giannazzo, Filippo; LA VIA, Francesco; Lombardo, Salvatore; Mio, Antonio M.; Nicotra, Giuseppe; Privitera, Stefania; Reitano, Riccardo; Roccaforte, Fabrizio; Spinella, Corrado; Rimini, Emanuele
Silicon and Germanium Nanocrystals
2015 Corrado Spinella;Salvo Mirabella
Ion beam processing of chemical vapor deposited silicon layers
1991 S.U. Campisano; C. Spinella; F. Priolo
| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| Measuring Techniques for the Semiconductor’s Parameters | 1-gen-2023 | Alberti, Alessandra; Giannazzo, Filippo; LA VIA, Francesco; Lombardo, Salvatore; Mio, Antonio M.; Nicotra, Giuseppe; Privitera, Stefania; Reitano, Riccardo; Roccaforte, Fabrizio; Spinella, Corrado; Rimini, Emanuele | |
| Silicon and Germanium Nanocrystals | 1-gen-2015 | Corrado Spinella;Salvo Mirabella | |
| Ion beam processing of chemical vapor deposited silicon layers | 1-gen-1991 | S.U. Campisano; C. Spinella; F. Priolo |