PRIVITERA, STEFANIA MARIA SERENA
PRIVITERA, STEFANIA MARIA SERENA
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
Mostra
records
Risultati 1 - 2 di 2 (tempo di esecuzione: 0.003 secondi).
Measuring Techniques for the Semiconductor’s Parameters
2023 Alberti, Alessandra; Giannazzo, Filippo; LA VIA, Francesco; Lombardo, Salvatore; Mio, Antonio M.; Nicotra, Giuseppe; Privitera, Stefania; Reitano, Riccardo; Roccaforte, Fabrizio; Spinella, Corrado; Rimini, Emanuele
Ion Implantation in Phase Change Ge2Sb2Te5 Thin Films for Non Volatile Memory Applications
2012 Stefania Privitera
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
---|---|---|---|
Measuring Techniques for the Semiconductor’s Parameters | 1-gen-2023 | Alberti, Alessandra; Giannazzo, Filippo; LA VIA, Francesco; Lombardo, Salvatore; Mio, Antonio M.; Nicotra, Giuseppe; Privitera, Stefania; Reitano, Riccardo; Roccaforte, Fabrizio; Spinella, Corrado; Rimini, Emanuele | |
Ion Implantation in Phase Change Ge2Sb2Te5 Thin Films for Non Volatile Memory Applications | 1-gen-2012 | Stefania Privitera |