D'ACAPITO, FRANCESCO
D'ACAPITO, FRANCESCO
Istituto Officina dei Materiali - IOM -
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Reflection XAFS
2016 D'Acapito, F
X-ray Absorption Spectroscopy Studies on Materials Obtained by the Sol-Gel Route
2016 Francesco d'Acapito
Group III-V and II-VI Nanowires
2015 D'Acapito, Francesco; D'Acapito, Francesco
Cap. 13: Group III-V and II-VI nanowires
2014 D'Acapito, Francesco
Advanced methods for the analysis of x-ray absorption spectroscopy data applied to semiconductors
2011 D'Acapito, F
Caratterizzazione della SLC: proprietà ed alterazioni chimico-fisiche
2010 Romanelli, M; Bartali, L; di Benedetto, F; Innocenti, M; Tesi, S; Bafaro, E; Fornaciai, G; D'Acapito, F; Montegrossi, G; A Pardi, L
X-ray Absorption Spectroscopy studies on materials obtained by the Sol-Gel Route
2004 D'Acapito, F
Introduction to the ReflEXAFS technique
2001 D'Acapito, F
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
---|---|---|---|
Reflection XAFS | 1-gen-2016 | D'Acapito, F | |
X-ray Absorption Spectroscopy Studies on Materials Obtained by the Sol-Gel Route | 1-gen-2016 | Francesco d'Acapito | |
Group III-V and II-VI Nanowires | 1-gen-2015 | D'Acapito, Francesco; D'Acapito, Francesco | |
Cap. 13: Group III-V and II-VI nanowires | 1-gen-2014 | D'Acapito, Francesco | |
Advanced methods for the analysis of x-ray absorption spectroscopy data applied to semiconductors | 1-gen-2011 | D'Acapito, F | |
Caratterizzazione della SLC: proprietà ed alterazioni chimico-fisiche | 1-gen-2010 | Romanelli, M; Bartali, L; di Benedetto, F; Innocenti, M; Tesi, S; Bafaro, E; Fornaciai, G; D'Acapito, F; Montegrossi, G; A Pardi, L | |
X-ray Absorption Spectroscopy studies on materials obtained by the Sol-Gel Route | 1-gen-2004 | D'Acapito, F | |
Introduction to the ReflEXAFS technique | 1-gen-2001 | D'Acapito, F |