Gijbels, Irène Maria
Gijbels, Irène Maria
Istituto per le applicazioni del calcolo - IAC - Sede Secondaria Napoli
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Detecting Important Features and Predicting Yield from Defects Detected by SEM in Semiconductor Production
2025 Amato, Umberto; Antoniadis, Anestis; De Feis, Italia; Doinychko, Anastasiia; Gijbels, Irène; La Magna, Antonino; Pagano, Daniele; Piccinini, Francesco; Selvan Suviseshamuthu, Easter; Severgnini, Carlo; Torres, Andres; Vasquez, Patrizia
Functional time series forecasting: a systematic review
2025 Amato, U.; Antoniadis, A.; De Feis, I.; Gijbels, I.
| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| Detecting Important Features and Predicting Yield from Defects Detected by SEM in Semiconductor Production | 1-gen-2025 | Amato, Umberto; Antoniadis, Anestis; De Feis, Italia; Doinychko, Anastasiia; Gijbels, Irène; La Magna, Antonino; Pagano, Daniele; Piccinini, Francesco; Selvan Suviseshamuthu, Easter; Severgnini, Carlo; Torres, Andres; Vasquez, Patrizia | |
| Functional time series forecasting: a systematic review | 1-gen-2025 | Amato, U.; Antoniadis, A.; De Feis, I.; Gijbels, I. |