GeO2-doped SiO2 thin films deposited by RF sputtering: morphology and optical properties

Battagliarin M;
2003

2003
Istituto di Chimica della Materia Condensata e di Tecnologie per l'Energia - ICMATE
IV Convegno Nazionale sulla Scienza e Tecnologia dei Materiali
Ischia
none
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
Quartarone E.; Mustarelli P.; Magistris A.; Marabelli F.; Battagliarin M.; Turato S.
275
04 Contributo in convegno::04.03 Poster in Atti di convegno
1
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