CNR Institutional Research Information System

Una tecnica interferometrica per la determinazione delle non linearità termiche nei vetri drogati da semiconduttori

S De Nicola;P Mormile;G Pierattini;
1988
1988
Istituto di Scienze Applicate e Sistemi Intelligenti "Eduardo Caianiello" - ISASI
Interferometria
ottica nonlineare
optoelettronica
semiconduttore
04.03 Poster in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/107151
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