CNR Institutional Research Information System

Una tecnica interferometrica per la determinazione delle non linearità termiche nei vetri drogati da semiconduttori

S De Nicola;P Mormile;G Pierattini;
1988
1988
Istituto di Scienze Applicate e Sistemi Intelligenti "Eduardo Caianiello" - ISASI
LXXIV Congresso SIF, Urbino 1988
Urbino, Italy
Interferometria
ottica nonlineare
optoelettronica
semiconduttore
none
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
Abbate, G; Assanto, G; Bernini, U; DE NICOLA, Sergio; Maddalena, P; Mormile, P; Pierattini, G; Santamato, E
275
04 Contributo in convegno::04.03 Poster in Atti di convegno
8
04.03 Poster in Atti di convegno
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