CNR Institutional Research Information System

Spectral characterization of two-dimensional Thue-Morse quasicrystals realized with electron beam lithography

De Nicola S;Zito G;Petti L;Rippa M;Mormile P
2010
2010
Istituto di Scienze Applicate e Sistemi Intelligenti "Eduardo Caianiello" - ISASI
04.03 Poster in Atti di convegno
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