CNR Institutional Research Information System

Microstructure of Si layers grown on GaAs(001) under an excess As or Al flux

E Carlino;L Sorba;S Heun;
1999
1999
Inglese
Proceedings 4th Multinational Congress on Electron Microscopy
4th Multinational Congress on Electron Microscopy
161
Sì, ma tipo non specificato
5-8 september 1999
Veszprem (H)
1
none
E. Carlino; L. Sorba; A. Franciosi; S. Heun; B.H. Müller
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/11897
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact