Probe Tips Functionalized with Colloidal Nanocrystal Tetrapods for High-Resolution Atomic Force Microscopy Imaging

Nobile C;Fiore A;Mastria R;Manna L;Krahne R
2008

2008
Istituto di Nanotecnologia - NANOTEC
INFM
NANOTUBE SCANNING PROBE
AFM PROBES
CARBON
FABRICATION
NANOPARTICLES
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/120631
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact