CATHODOLUMINESCENCE AND X-RAY TOPOGRAPHY STUDY OF ELECTRON-BEAM INDUCED DISLOCATION CLIMB IN III-V SEMICONDUCTING MATERIALS

L Lazzarini;G Salviati;
1988

1988
Istituto dei Materiali per l'Elettronica ed il Magnetismo - IMEM
Inglese
GOODHEW, PJ; DICKINSON, HG
EUREM 88, VOLS 1-3: TUTORIALS, INSTRUMENTATION AND TECHNIQUES / PHYSICS AND MATERIALS / BIOLOGY
9TH EUROPEAN CONGRESS ON ELECTRON MICROSCOPY
93
421
422
0-85498-187-X
IOP Publishing Ltd. (Institute of Physics Publishing Ltd)
"Bristol ; London"
REGNO UNITO DI GRAN BRETAGNA
Sì, ma tipo non specificato
SEP 04-09, 1988
YORK, ENGLAND
SINGLE-CRYSTALS
GLIDE
5
none
Franzosi, P; Lazzarini, L; Salviati, G; Scaffardi, M; Fieschi, R
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/120924
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 0
social impact