High resolution x-ray diffraction and transmission electron microscopy investigation on As and P incorporation in MOCVD and CBE grown In(GaAs)P/InP 'false' multi quantum wells

	Anno
	
				1993
			
	Codice ISBN
	
				0-7803-0993-6
			
	Appare nelle tipologie:
	
				04.01 Contributo in Atti di convegno

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/120962

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