CNR Institutional Research Information System

Assessment of Semiconductors by Scanning Electron Microscopy Techniques

Salviati G;Lazzarini L;
2011
2011
Istituto dei Materiali per l'Elettronica ed il Magnetismo - IMEM
Inglese
Bhattacharya, Fornari and Kamimura
Comprehensive Semiconductor Science and Technology
308
356
9780444531438
Elsevier
Amsterdam
PAESI BASSI
Sì, ma tipo non specificato
4
02 Contributo in Volume::02.01 Contributo in volume (Capitolo o Saggio)
268
none
Salviati, G; Lazzarini, L; Sekiguchi, T; Chen, B
info:eu-repo/semantics/bookPart
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/123519
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