Analisi non distruttiva di un minerale di berillio mediante il sistema PIXE-alfa, XRF e microfascio X del LANDIS

The results of XRF, PIXE and micro-XRF non destructive measurements carried out on a beryllium mineral using portable systems are presented and discussed. It is shown that it is possible to reach a sufficient characterisation of the mineral to be used for provenance studies. The portable systems are realised at the LANDIS-LNS, Catania.

Vengono presentati e discussi i risultati di misure PIXE, XRF e micro-XRF non distruttive effettuate su un minerale di berillio con strumentazione portatile. I dati, nel loro complesso, mostrano come sia possibile pervenire ad una caratterizzazione del minerale utile per la individuazione delle miniere di provenienza. I sistemi di analisi sono stati realizzati presso il laboratorio LANDIS-INFN di Catania.