CNR Institutional Research Information System

A Comprehensive Analysis of Irradiated Silicon Detectors at Cryogenic Temperatures

F Moscatelli;
2003
2003
Inglese
WOS:000184789000064
50
1111
1120
10
http://ieeexplore.ieee.org/xpl/articleDetails.jsp?tp=&arnumber=1221930&searchWithin%3Dp_First_Names%3AFrancesco%26searchWithin%3Dp_Last_Names%3AMoscatelli%26matchBoolean%3Dtrue%26queryText%3D%28p_Authors%3AMoscatelli%2C+Francesco%29
Sì, ma tipo non specificato
7
info:eu-repo/semantics/article
262
Santocchia, A; Macevoy, B; Hall, G; Bilei, Gm; Moscatelli, F; Passeri, D; Pignatel, Gu
01 Contributo su Rivista::01.01 Articolo in rivista
none
01.01 Articolo in rivista
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/128546
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 4
social impact