CNR Institutional Research Information System

TEM, Photoetching and AFM study of Cu-diffused GaAs

2000
2000
Istituto dei Materiali per l'Elettronica ed il Magnetismo - IMEM
Inglese
abstract book
EUREM 2000, 12th European Congress on Electron Microscopy
P424
Sì, ma tipo non specificato
9-14 luglio 2000
Brno (Cz)
TEM
GaAs
photoetching
AFM
none
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
C Frigeri a, ; J L Weyher b, ; C, ; S Müller d, ; P Hiesinger d,
275
04 Contributo in convegno::04.03 Poster in Atti di convegno
5
04.03 Poster in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/130088
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