CNR Institutional Research Information System

Advanced methods for the analysis of x-ray absorption spectroscopy data applied to semiconductors

F d'Acapito
2011
2011
Istituto Officina dei Materiali - IOM -
Inglese
A. Bonanni
Special issue on (nano)characterization of semiconductor materials and structures
064004
8
Sì, ma tipo non specificato
1
02 Contributo in Volume::02.01 Contributo in volume (Capitolo o Saggio)
268
none
D'Acapito, F
info:eu-repo/semantics/bookPart
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