E' mostrato come l'uso combinato dei sistemi portatili PIXE-???XRF?ed XRD può fornire informazioni quantitative nello studio di pitture murali ed in particolare di affreschi antichi. Infatti l'analisi elementare qualitativa PIXE consente di individuare gli elementi (Z>10) presenti in superficie e nello stesso tempo di limitare le possibili fasi mineralogiche da prendere in esame. L'analisi quantitativa PIXE, infine, condotta introducendo nel programma di analisi i composti precedentemente individuati mediante XRD, permette una completa caratterizzazione delle superfici in studio. Si discute il caso degli interventi nello studio delle superfici degli affreschi del palazzo di Nestore a Pylos.
Caratterizzazione quantitativa delle superfici di affreschi antichi mediante l'uso combinato di strumentazione portatile PIXE-alfa, XRF ed XRF. Applicazione al caso degli affreschi del palazzo di Nestore a Pylos
2005
Abstract
E' mostrato come l'uso combinato dei sistemi portatili PIXE-???XRF?ed XRD può fornire informazioni quantitative nello studio di pitture murali ed in particolare di affreschi antichi. Infatti l'analisi elementare qualitativa PIXE consente di individuare gli elementi (Z>10) presenti in superficie e nello stesso tempo di limitare le possibili fasi mineralogiche da prendere in esame. L'analisi quantitativa PIXE, infine, condotta introducendo nel programma di analisi i composti precedentemente individuati mediante XRD, permette una completa caratterizzazione delle superfici in studio. Si discute il caso degli interventi nello studio delle superfici degli affreschi del palazzo di Nestore a Pylos.I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
