Structural examination of all along the thickness of polymeric thin films by sinchrotron radiation.

Porzio W;Scavia G;Barba L;
2009

2009
Istituto per lo Studio delle Macromolecole - ISMAC - Sede Milano
Symposium R : X-ray techniques for advanced materials, nanostructures and thin films: from laboratory sources to synchrotron radiation
Strasburgo
none
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
Porzio W.; Scavia G.; Barba L.; Arrighetti G.; Milita S.
275
04 Contributo in convegno::04.03 Poster in Atti di convegno
2
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/135098
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact