Il capitolo è dedicato alle tecniche cosiddette di whole Profile Fitting che si applicano a dati sperimentali da raggi X raccolti su polveri microcristalline. E' parte di un volume che raccoglie una serie di capitoli in cui sono trattati gli aspetti fondamentali, strumentali, metodologici e computazioni delle tecniche di diffrazione per materiali policristallini, fino alle applicazioni più avanzate.
Tecniche di "Whole Powder Profile Fitting"
Guagliardi A
2006
Abstract
Il capitolo è dedicato alle tecniche cosiddette di whole Profile Fitting che si applicano a dati sperimentali da raggi X raccolti su polveri microcristalline. E' parte di un volume che raccoglie una serie di capitoli in cui sono trattati gli aspetti fondamentali, strumentali, metodologici e computazioni delle tecniche di diffrazione per materiali policristallini, fino alle applicazioni più avanzate.File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
