CNR Institutional Research Information System

Exchange Bias in fcc-CoPt/CoO/Si films as a function of annealing treatment.

Laureti S;Agostinelli E;Fiorani D;Testa AM;Varvaro G;Generosi A;Paci B;
2008
2008
Istituto di Struttura della Materia - ISM - Sede Roma Tor Vergata
04.03 Poster in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/137803
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