Exchange Bias in fcc-CoPt/CoO/Si films as a function of annealing treatment.

Laureti S;Agostinelli E;Fiorani D;Testa AM;Varvaro G;Generosi A;Paci B;
2008

2008
Istituto di Struttura della Materia - ISM - Sede Roma Tor Vergata
NANOSEA08 - Second International Conference on Nanostructures SElf-Assembly
Roma
none
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Laureti, S; Agostinelli, E; Fiorani, D; Testa, Am; Varvaro, G; Generosi, A; Paci, B; Rossi Albertini, V
275
04 Contributo in convegno::04.03 Poster in Atti di convegno
8
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