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Hillock formation in InP epitaxial layers: a mechanism based on dislocation/ stacking fault interactions

1990
1990
Istituto dei Materiali per l'Elettronica ed il Magnetismo - IMEM
InP
Stacking faults
Hillock
dislocation
TEM
01.01 Articolo in rivista
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/141747
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