CNR Institutional Research Information System

Selective control of edge-channel trajectories by scanning gate microscopy

Heun S;Roddaro S;Sorba L;Biasiol G;Beltram F
2010
2010
Istituto Officina dei Materiali - IOM -
Istituto Nanoscienze - NANO
WOS:000276541200097
42
1038
1041
2-s2.0-76949108815
8
info:eu-repo/semantics/article
262
Paradiso, N; Heun, S; Roddaro, S; Pfeiffer, Ln; West, Kw; Sorba, L; Biasiol, G; Beltram, F
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none
01.01 Articolo in rivista
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