CNR Institutional Research Information System

Grain Boundary Characterisation in Sequentially Laterally Solidified Polycrystalline-Silicon Thin Film Transistors

a Valletta;a Pecora;g Fortunato;
2007
2007
Istituto di fotonica e nanotecnologie - IFN
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
04.01 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/151968
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