CNR Institutional Research Information System

Characterization of the optical constants of materials from the visible to the soft x-rays

L Poletto;A Giglia;
2008
2008
Istituto di fotonica e nanotecnologie - IFN
Istituto Officina dei Materiali - IOM -
Advances in Optical Thin Films III
SPIE Optical System Design 2008
71010W
WOS:000264282700029
10
none
Larruquert, Ji; Fernándezperea, M; Vidaldasilva, M; Aznárez, Ja; Méndez, Ja; Poletto, L; Garoli, D; Malvezzi, Am; Giglia, A; Nannarone, S...espandi
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/15421
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 1
social impact