Thorough investigation of Si-nanocrystal memories with high-k interpoly dielectrics for sub-45nm node Flash NAND applications

Bongiorno C;Lombardo S;
2007

2007
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
International Electron Devices Meeting, 2007. IEDM '07
Sì, ma tipo non specificato
Washington DC, USA
2
none
Molas G; Bocquet M; Buckley J; Colonna JP; Masarotto L; Grampeix H; Martin F; Vidal V; Toffoli A; Brianceau P; Vermande L; Scheiblin P; Gely M; Papon ...espandi
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/155174
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact