CNR Institutional Research Information System

Growth and characterisation of CdTe films for p-i-n diode X-ray detectors

Traversa M;Prete P;
2006
2006
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
XXXV Congresso Nazionale dell’Associazione Italiana di Cristallografia
Sì, ma tipo non specificato
Ferrara
7
none
Traversa, M; Paiano, P; Marzo, F; Prete, P; Tapfer, L; Lovergine, N; Mancini, Am
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/166591
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