CNR Institutional Research Information System

Study of the effect of vertical size uniformity on diffraction contrast images of stacked In(x)Ga(1-x)As/GaAs quantum dots

A Taurino;M Catalano;A Passaseo;
2000
2000
Istituto di Nanotecnologia - NANOTEC
80-238-5503-4
04.01 Contributo in Atti di convegno
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