CNR Institutional Research Information System

Transmission electron microscopy of si dots used for single electron storage in floating gate mos memories

Crupi I
2001
2001
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
Inglese
5TH MULTINATIONAL CONGRESS ON ELECTRON MICROSCOPY
357
358
1-58949-003-7
September 20-25, 2001
Lecce, Italy
WOS:000183071700140
1
none
Spinella C; Lombardo S; Bongiorno C; Gerardi C; Vulpio M; Crupi I
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
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