CNR Institutional Research Information System

Characterization study of strained InGaAs/GaAs superlattices

S Kaciulis;S Viticoli
1994
1994
Istituto per lo Studio dei Materiali Nanostrutturati - ISMN
Inglese
WOS:A1994PT84600017
76
10
5738
5743
Sì, ma tipo non specificato
X-RAY DIFFRACTION
DEPTH RESOLUTION
XPS
MULTILAYER STRUCTURES
GAAS
1
info:eu-repo/semantics/article
262
L. Dapkus; V. Jasutis; S. Kaciulis; D. Lescinskas; G. Mattogno; L. Stakvilevicius; G. Treideris; S. Viticoli
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none
01.01 Articolo in rivista
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