Dielectric Relaxations and Conductivity Mechanism of Nafion: Studies Based on Broad-Band Dielectric Spectroscopy

G Pace;
2008

2008
Istituto di Scienze e Tecnologie Molecolari - ISTM - Sede Milano
Inglese
214th Meeting of the Electrochemical Society
12th-17th October 2008
Honolulu, USA
1
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
none
274
04 Contributo in convegno::04.02 Abstract in Atti di convegno
V. Di Noto; M. Piga; G. Pace; E. Negro; S. Lavina
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