2 MeV Si ion implantation damage in relaxed Si1-xGex

1996

1996
120
165
Sì, ma tipo non specificato
10
info:eu-repo/semantics/article
262
Co'Raifeartaight, ; Rcbarklie, ; Larsen, Anylandsted; Fpriolo, ; Gfranzo, ; Glulli, ; Mbianconi, ; Jklindner, ; Fcristiano, ; Hemment, Plf
01 Contributo su Rivista::01.01 Articolo in rivista
none
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