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Numerical analysis of electrical characteristics of polysilicon thin film transistors fabricated by excimer laser crystallization

L Mariucci;A Pecora;G Fortunato;
1998
1998
Inglese
WOS:000073847300070
34
9
924
926
3
7
info:eu-repo/semantics/article
262
Mariucci, L; Giacometti, F; Pecora, A; Massussi, F; Fortunato, G; Valdinoci, M; Colalongo, L
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none
01.01 Articolo in rivista
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