CNR Institutional Research Information System

Electron and ion beam analysis of composition and strain in Si-x Ge x/Si heterostructures

Roberto Balboni;
1994
1994
Inglese
WOS:A1994NW91600013
114
175
185
11
2-s2.0-0039437261
Sì, ma tipo non specificato
SILICON-GERMANIUM ALLOYS
COMPOSITION DETERMINATION
LATTICE STRAIN DETERMINATION
CONVERGENT BEAM ELECTRON DIFFRACTION
ION BEAM ANALYSIS
7
info:eu-repo/semantics/article
262
Armigliato, Aldo; Govoni, Donato; Balboni, Roberto; Frabboni, Stefano; Berti, Marina; Romanato, Filippo; V Drigo, Antonio
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none
01.01 Articolo in rivista
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