CNR Institutional Research Information System

Contactless measurement of bulk recombination lifetime and surface recombination velocity in silicon wafer

R Bernini;
1995
1995
Inglese
Proceedings of the 25th European Solid State Device Research Conference
25th European Solid State Device Research Conference (ESSDERC 95)
487
490
286332182X
Sì, ma tipo non specificato
25-27 Sept. 1995
The Hague, The Netherlands
6
none
Bernini, R; Cutolo, A; Irace, A; Schettino, S; Zeni, L; Spirito, P
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
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