High spatial resolution analytical investigation of the composition of InGaAs/GaAs quantum dots

M Catalano;A Taurino;A Passaseo;
2000

2000
Istituto di Nanotecnologia - NANOTEC
Inglese
Microscopy & Microanalysis, 6 (Suppl 2), Proceeding Microscopy Society of America 2000 meeting
Microscopy Society of America 2000 meeting
122
Sì, ma tipo non specificato
Philadelphia
5
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
none
274
04 Contributo in convegno::04.02 Abstract in Atti di convegno
Catalano, M; Crozier, P; Taurino, A; Passaseo, A; Cingolani, R
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