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Summary Abstract: Structural analysis of ultrathin epitaxial Ge/Si films on Si(100)

Davidson;
1987
1987
Inglese
5
4
1147
1149
3
http://scitation.aip.org/content/avs/journal/jvstb/5/4/10.1116/1.583744
info:eu-repo/semantics/article
266
none
01 Contributo su Rivista::01.05 Abstract in rivista
Bevk J;Davidson; B A;Feldman; L C;Gossmann; HJ;Mannaerts; J P;Nakahara S;Ourmazd; A
1
01.05 Abstract in rivista
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/19116
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