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Electromagnetic field resonance in thin amorphous films: a tool for non-destructive localization of thin marker layers by use of a standard X-ray tube

S Lagomarsino;A Cedola;
1996
1996
287
1-2
288
292
6
info:eu-repo/semantics/article
262
Di Fonzo, S; Jark, W; Lagomarsino, S; Cedola, A; R Mueller, B; B Pelka, J
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01.01 Articolo in rivista
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