I dipinti tradizionali giapponesi rappresentano una delle più affascinanti espressioni artistiche di questa cultura, dove i materiali artistici tradizionali sono stati estensivamente studiati, mentre la caratterizzazione dei pigmenti e coloranti usati in campo artistico o conservativo in epoca moderna o contemporanea presenta molte carenze. Per colmare questa lacuna sono stati analizzati ventisei pigmenti/coloranti giapponesi tradizionali e moderni in polvere, impiegando diverse tecniche analitiche, allo scopo di creare uno specifico archivio di dati per la caratterizzazione di questi materiali moderni usati da artisti e restauratori. Questi materiali sono stati esaminati mediante l'uso di tecniche elementari e spettroscopiche per acquisire una conoscenza completa delle peculiarità dei differenti composti presenti in ciascun singolo pigmento. In questo studio sono state impiegate le seguenti tecniche analitiche: SEM-EDX, FTIR, UV-Vis-NIR FORS, Raman e spettroscopia THz

Creazione di un archivio di dati spettroscopici con diverse tecniche analitiche su pigmenti moderni Giapponesi

M Picollo;F Grazzi;M Zoppi
2012

Abstract

I dipinti tradizionali giapponesi rappresentano una delle più affascinanti espressioni artistiche di questa cultura, dove i materiali artistici tradizionali sono stati estensivamente studiati, mentre la caratterizzazione dei pigmenti e coloranti usati in campo artistico o conservativo in epoca moderna o contemporanea presenta molte carenze. Per colmare questa lacuna sono stati analizzati ventisei pigmenti/coloranti giapponesi tradizionali e moderni in polvere, impiegando diverse tecniche analitiche, allo scopo di creare uno specifico archivio di dati per la caratterizzazione di questi materiali moderni usati da artisti e restauratori. Questi materiali sono stati esaminati mediante l'uso di tecniche elementari e spettroscopiche per acquisire una conoscenza completa delle peculiarità dei differenti composti presenti in ciascun singolo pigmento. In questo studio sono state impiegate le seguenti tecniche analitiche: SEM-EDX, FTIR, UV-Vis-NIR FORS, Raman e spettroscopia THz
2012
Istituto di Fisica Applicata - IFAC
Istituto dei Sistemi Complessi - ISC
Italiano
Maria Pia Riccardi, Elena Basso
Atti del VI Congresso Nazionale di Archeometria "Scienza e Beni Culturali" Pavia, 15-18 febbraio 2010
AIAr Conference - VI Congresso Nazionale di Archeometria "Scienza e Beni Culturali" Pavia, 15-18 febbraio 2010
in CD-Rom
978-88-555-3181-8
Pàtron Editore
Bologna
ITALIA
Sì, ma tipo non specificato
15-18 febbraio 2010
Pavia
modern japanese pigments
SEM-EDX
FTIR
UV-Vis-NIR FORS
Raman
THz
3
none
M. Picollo; F. Grazzi; M. Bokuda; K. Fukunaga; F. Civita; M. Zoppi
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/201770
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