CNR Institutional Research Information System

ANALYSIS OF HOT-CARRIER-INDUCED DEGRADATION IN POLYCRYSTALLINE SILICON THIN-FILM TRANSISTORS

G Fortunato;A Pecora;G Tallarida;L Mariucci;
1993
1993
Inglese
Borel, J; Gentil, P; Noblanc, JP; Nouailhat, A; Verdone, M
ESSDERC '93 - PROCEEDINGS OF THE 23RD EUROPEAN SOLID-STATE DEVICE RESEARCH CONFERENCE
23rd European Solid State Device Research Conference (ESSDERC 93)
61
64
2-86332-135-8
SEP 13-16, 1993
GRENOBLE, FRANCE
2-s2.0-84907705300
WOS:A1993BB18A00011
6
none
Fortunato, G; Pecora, A; Tallarida, G; Mariucci, L; Valdinoci, M; Gnudi, A
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/202033
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 0
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 1
social impact