EUV Polarimetry with single multilayer optical element

ZUCCON S;PELIZZO M;GIGLIA A;MAHNE N;NANNARONE S
2008

2008
SPIE Proc Advances in X-Ray/EUV Optics and Components III
SPIE Advances in X-Ray/EUV Optics and Components III
7077
70771R
6
none
Zuccon, S; Pelizzo, M; Nicolosi, P; Giglia, A; Mahne, N; Nannarone, S
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
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