Study of photoelectron Yield from Layered Structures in the Presence of Resonance-Enhanced x-ray Propagation Effect

ACedola;
1997

1997
Inglese
91
5
851
857
5
info:eu-repo/semantics/article
262
Pelka, Jb; Slagomarsino, ; Acedola, ; S Di Fonzo, ; Jark, W
01 Contributo su Rivista::01.01 Articolo in rivista
none
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/204617
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact