CNR Institutional Research Information System

TEM and X-ray diffraction studies of III-V lattice mismatched multilayers and superlattices

G Salviati;C Ferrari;L Lazzarini;M Mazzer;F Romanato;
1995
1995
Inglese
A G Cullis and A E Staton-Bevan
Microscopy of Semiconducting Materials
Microscopy of Semiconducting Materials
337
348
0750303476
IOP Publishing Ltd. (Institute of Physics Publishing Ltd)
"Bristol ; London"
REGNO UNITO DI GRAN BRETAGNA
20 - 23 March 1995
Oxford University
10
none
Salviati, G; Ferrari, C; Lazzarini, L; Franchi, S; Bosacchi, A; Taiariol, F; Mazzer, M; Zanottifregonara, C; Romanato, F; Drigo, Av
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/205045
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